Description

 Outils modernes de caractérisation et fabrication de nanomatériaux :

-        Microscopies à champ proche (STM, AFM, etc)

-        Microscopies électroniques (MEB, MET, etc)

-        Nanoptiques (SNOM, STED, PALM, etc°

-        Outils de nanofabrication (FIB, lithographie à électron, etc.)

Compétences visées

Connaissances des outils modernes de caractérisation et de nanofabrication à différentes échelles. Principes sous-jacents ainsi que leurs utilisations réelles.

Contacts

Responsable(s) de l'enseignement

• Thomas Ebbesen

MCC

Les épreuves indiquées respectent et appliquent le règlement de votre formation, disponible dans l'onglet Documents de la description de la formation.

Régime d'évaluation

CT (Contrôle terminal, mêlé de contrôle continu)

Coefficient

3.0